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X-ray scattering on polymeric materials utilizing synchrotron light source

등록일: 2009년 2월 20일 14시 12분 39초
접수번호: 1546
발표코드: 금3I1심 이곳을 클릭하시면 발표코드에 대한 설명을 보실 수 있습니다.
발표시간: 금 13시 : 00분
발표형식: 심포지엄
발표분야: 고분자화학 - Recent Researches on Nano-Scale Structures of Polymeric Materials Using Synchrotron Radiation Sources II
저자 및 공동저자: 송현훈
한남대학교 신소재공학과, Korea

X-선 산란 또는 회절을 이용하여 물질의 구조를 밝히는 기술은 1912년 Laue에 의하여 결정에 의한 회절 현상이 확인된 이후 지속적으로 발전되어 왔다. 이러한 발전은 X-선을 자유로이 조절할 수 있는 장치 그리고 회절된 X-선의 검출기 등의 기술적 진보에 의하여 이루어져왔으며 강하며 안정된 X-선 발생 장치 또한 매우 중요한 역할을 감당한 것도 사실이다. 1980년대 방사광 가속기로부터 얻은 매우 강한 광원의 출현은 X-선을 이용한 구조 분석의 기능을 훨씬 더 확대시키는 기회를 제공하였다. 우리나라 포항가속기가 건설되어 일반 연구진에게 공개 된 1995년 이후 국내의 가속기를 이용한 고분자 연구도 매우 활발하게 진행되어 왔으며 이러한 연구 활성화에 힘입어 현재 고분자 전용 빔라인 (4C1, 4C2) 두 개를 보유하고 있다. 본 발표에서는 방사광 가속기를 이용한 X-선 산란 실험을 통하여 연구된 고분자구조 연구 결과를 다룰 것이며 이와 관련된 기기와 이들의 개선 방법 등을 논할 것이다.

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