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제109회 대한화학회 학술발표회, 총회 및 기기전시회 안내 Trace Metal Analysis for Determination of the Source of Physical Evidence

등록일
2012년 2월 16일 15시 30분 28초
접수번호
1051
발표코드
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발표시간
4월 25일 (수요일) 18:00~21:00
발표형식
포스터
발표분야
분석화학
저자 및
공동저자
민지숙, 김기욱, 허상철, 장유림1
국립과학수사연구소 화학분석과, Korea
1이화여자대학교 화학나노과학과, Korea
Using 7 certified reference materials, we investigated for the resonable analytical method for the determination of elemental content of metal samples. Those methods included are (1) inductively coupled plasma-optical emission spectrometry(ICP-OES), (2) inductively coupled plasma-mass spectrometry(ICP-MS), (3) Laser ablation-inductively coupled plasma-mass spectrometry(LAICP-MS), (4) X-ray fluorescence spectrometry(XRF). Each method has it's own characteristics in sensitivity, ruggedness, easiness etc. ICP-OES is accurate for the most elements but requires time, labor and exposes some dangerous chemicals to put through. ICP-MS is the most sensitive so trace element in the metal samples can be determined most exactly but easy to be detracted for the wrong end. LAICP-MS is the most convenient method among the investigated methods with accuracy and precision. XRF is a good screening step procedure for the more accurate results.

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