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XRF를 이용한 특정 유해물질의 분석(RoHS)

등록일
2005년 2월 17일 10시 41분 09초
접수번호
0804
발표코드
22P126포 이곳을 클릭하시면 발표코드에 대한 설명을 보실 수 있습니다.
발표시간
금 <발표Ⅰ>
발표형식
포스터
발표분야
분석화학
저자 및
공동저자
이석렬, 정재학, 김혁년
LG필립스LCD,
RoHS(특정유해물질 사용제한 지침)의 발효로 Pb, Cd, Hg, Cr6+, Brominated Flame Retardants(PBBs, PBDEs)의 사용이 전기, 전자 제품에서 허용기준을 초과해서는 사용할 수 없으며, 이에 따른 방안이 강구되고 있다. 특히 전자 제품에는 많은 특정 유해물질이 사용 되고 있으며, 비파괴 방식으로 screening하는데 X-ray Fluorescence Analyzer가 이용되고 있다. 비파괴 방식으로 PCB에 함유된 특정 유해 물질을 Image를 통해 분석하고, FT-IR을 이용하여 전자제품에 사용되는 플라스틱중의 Br계 난연제를 측정하고 Screening할 수 있다.

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