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제108회 대한화학회 학술발표회, 총회 및 기기전시회 안내 Surface Analysis of Diblock Copolymer Films using SIMS and AFM

등록일
2011년 8월 5일 16시 55분 14초
접수번호
1616
발표코드
Ⅳ-ANAL.P-233 이곳을 클릭하시면 발표코드에 대한 설명을 보실 수 있습니다.
발표시간
금 <발표Ⅳ>
발표형식
포스터
발표분야
분석화학
저자 및
공동저자
이지혜, 강민화1, 김강진, 이연희2
고려대학교 화학과, Korea
1과학기술연합대학원대학교 나노및바이오표면과학, Korea
2한국과학기술연구원 특성분석센터, Korea
Deuterated polystyrene/poly(ethyl hexylacrylate) diblock copolymers, dPS-PEtHA with different molecular weights were investigated using Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS) and Atomic Force Microscopy (AFM). A series of the diblock copolymers were prepared by spin coating from toluene solutions onto a silicon substrate (2000 rpm for 60 s). The copolymer films were annealed at various temperatures in a vacuum. Elemental and molecular depth profiles measured in the negative ion mode by a Cs+ primary ion beam demonstrate variations in hydrogen, deuterium, carbon, oxygen and hydrocarbons within the diblock copolymer according to the depth. And, film thickness and surface morphology were also observed by using profilometer and AFM. The microdomain separation processes of dPS-PEtHA were investigated as a function of the annealing temperature and time.

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