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제109회 대한화학회 학술발표회, 총회 및 기기전시회 안내 Multilayer Graphene Characterization by Vis- and IR- ANSOM

등록일
2012년 2월 16일 14시 53분 40초
접수번호
0966
발표코드
PHYS.P-443 이곳을 클릭하시면 발표코드에 대한 설명을 보실 수 있습니다.
발표시간
4월 25일 (수요일) 18:00~21:00
발표형식
포스터
발표분야
물리화학
저자 및
공동저자
김덕수, 김지환1
고려대학교 기초과학연구소, Korea
1고려대학교 화학과, Korea
We have investigated infrared and visible apertureless near-field scanning optical microscopy (Vis- and IR- ANSOM) in the linearly polarized lights from He-Ne lasers (633 nm and 3.391um) and IR-OPO (3 um ~ 3.6 um). As a light source, a tunable wavelength change continuous wave infrared optical parametric oscillator (cw-IR OPO) with an output power of up to 10 mW in the 3 um ~ 3.6 um ranges have been set up. The graphenes of single and a few lasyers are deposited on SiO2(285 nm) / Si substrate by mechanical exfoliation. The typical dimensions of the graphene randomly deposited by this method are ~100 um. We carried out sensitively graphene layers optical constrast mapping of near-field around variable graphene layers using IR-ANSOM and Vis-ANSOM. We attained high resolution optical constrast maps of different graphene layers below the diffraction limit of classical microscopy.

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