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제109회 대한화학회 학술발표회, 총회 및 기기전시회 안내 태양전지용 후면 알루미늄 페이스트 비드 분석

등록일
2012년 2월 16일 14시 54분 16초
접수번호
0967
발표코드
PHYS.P-444 이곳을 클릭하시면 발표코드에 대한 설명을 보실 수 있습니다.
발표시간
4월 25일 (수요일) 18:00~21:00
발표형식
포스터
발표분야
물리화학
저자 및
공동저자
차민혁, 김상호
공주대학교 화학과, Korea
본 연구에서는 태양전지용 후면 알루미늄 페이스트 소성 시 과소성되어 발생하는 비드에 대하여 생성 원인과 현상을 분석하였다. 최초 벨트 퍼니스에서 벨트 속도를 느리게 하여 소성시켰을 때, 발견하였으며 실험을 진행해본 결과 알루미늄 비드 형성에는 과소성이 중요한 원인임을 알게 되었다. 비드가 발생하였을 때, 일반 웨이퍼 업계에서는 불량으로 처리하며, 전지 효율에 미흡하지만 나쁜 영향을 끼치기 때문에 비드 생성원인을 알고 제거하는 것이 필요하다. 비드가 생성되는 원인은 실리콘과 알루미늄 사이의 집합체에 의해 솟아오른 것으로, 본래 실리콘과 알루미늄의 집합체가 실리콘 웨이퍼상에서 BSF층을 형성하는데, 과소성되는 조건에서는 이 집합체가 알루미늄 페이스트 표면으로 솟아오르는 것을 확인할 수 있었다. 비드를 억제하기 위해서는 벨트 스피드를 적정 수준으로 유지하여 과소성을 방지하고, 페이스트 제조상 들어가는 Glass Frit의 성분 중 녹는점이 상대적으로 높은 물질들을 사용하여 Glass Frit의 Tg온도를 높여서 온도에 대한 저항력을 갖게 하는 것이 관건이다. 이 연구는 태양전지 업계에서 셀의 효율의 영향을 미치는 후면 손실이 최초 발견되어 원인을 분석하고자 진행하였으며, 본 연구를 통해 태양전지 후면전극의 손실을 줄여, 셀 효율을 높이는 데 도움을 줄 것이다.

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