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제118회 대한화학회 학술발표회, 총회 및 기기전시회 안내 Non-invasive detection of inner layer materials in turbid media using Deep Raman Spectroscopy

등록일
2016년 8월 25일 13시 58분 36초
접수번호
3106
발표코드
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발표시간
금 09시 : 15분
발표형식
구두발표
발표분야
분석화학 - Oral Presentation of Young Analytical Chemists Ⅱ
저자 및
공동저자
조영호, 지민호, 배창현, 박찬량1,*, 김형민*
국민대학교 생명나노화학과, Korea
1국민대학교 화학과, Korea
One of the most goals of the analytical technique in industrial fields is the provision of chemically fingerprinting, non-invasive method for monitoring the raw material composition in opacity media such as poly-ethylene case. Recently, the deep-Raman techniques play an important role in non-invasive and chemically specific analysis methods such as spatially-offset Raman spectroscopy (SORS). In this study, we demonstrate deep layer materials in turbid media without unpackaged using non-invasive deep Raman technique such as spatially offset Raman spectroscopy (SORS), line illumination spatially offset Raman spectroscopy (L-SORS) and line illumination one shot imaging techniques. Furthermore, the deep Raman methods are adopted to confirm their possibility for raw materials monitoring without unpackaged in pharmaceutical and industrial fields.

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